【模擬授業開催・公開】第三回先端科学技術とイノベーション

プログラム 2012年12月7日 posted浅井 政美

平成25年度から開講される「イノベーションマネージメント・政策プログラム
(Innovation  Management and Policy Program)」の必修科目 「先端科学技術とイノベーション」
の第三回模擬授業を開講します。
一橋大学関係者の御参加をお願いします。

なお、一橋大学以外の参加希望者は、
所属、ご氏名を明記の上、asai@iir.hit-u.ac.jpまで、メールをお送り下さい。
参加可能の可否をご連絡いたします。






技術領域 半導体
半導体技術の歴史的な変遷と社会に与えた影響に関する知識を取得する。

 開催場所:一橋大学 イノベーション研究センター 2F 会議室


第三回 1月9日(水) 13:30-16:30

  13:30-15:00 (講義:60分 質疑・議論:30分)

担当:津野 勝重 研究員
講義の題名:

115年前に開発されたウィーンフィルタと電子顕微鏡のかかわり

講義の概要:

ウィーンフィルタは1898年に電子が重さのある粒子であることを証明する装置として開発された。60年間にも及ぶ空白の時を経て電子の高エネルギー分析装置として蘇った。今日まで電子顕微鏡などに搭載され、エネルギー分析のほか、ビーム分離器、スピン回転器、位相シフト器として利用された。新しい応用も提案されている。この発展の足跡とともに今後の展望についても述べたい。

  15:00-16:30 (講義:60分 質疑・議論:30分)

担当:中馬 宏之 教授 

講義の題名: 

     半導体製造装置産業の競争力:日立製CD-SEMの事例から

講義の概要:

 多くの日本の半導体メーカーや装置メーカーが苦境に立つ中、

日立製の測長用走査型電子顕微鏡(CD-SEM)は、その間に曲

折はあったものの、ほぼ四半世紀にわたって世界シェア

80%を超え続けている。本講義では、長期間にわたる聞き取

り調査や歴史分析に基づいて、日立が四半世紀にわたって保

持し続けてきたた高い競争力の源泉を、1960年代の走査型

電子顕微鏡の歴史にまで遡って探る。CD-SEM技術の

Detailsの中に潜む一般原則の解明に挑んでみたい。

   以上


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